半自動(dòng)劃片機(jī)/切片機(jī)（6英寸）-半導(dǎo)體材料 參考價(jià)：面議
半自動(dòng)劃片機(jī)/切片機(jī)（6英寸）-半導(dǎo)體材料適用于 6 英寸晶圓– 6 英寸硅晶圓– 緊湊尺寸的占地面積（寬 x 深 = 590 x 880）– 多處安裝劃片可劃...
半自動(dòng)劃片機(jī)（8英寸，12英寸）-半導(dǎo)體材料 參考價(jià)：面議
半自動(dòng)劃片機(jī)（8英寸，12英寸）-半導(dǎo)體材料– 最大 16 英寸– 重復(fù)精度（Y 軸） ： 0.001– 可選 3 英寸刀片、BBD（刀片斷裂檢測(cè)儀）、NCS（...
半自動(dòng)切片機(jī)（16英寸）-半導(dǎo)體材料 參考價(jià)：面議
半自動(dòng)切片機(jī)（16英寸）-半導(dǎo)體材料– 最大 16 英寸 （300mm x 300mm）– 真空卡盤：300mm x 300mm 方形
全自動(dòng)劃片機(jī)/切片機(jī)（12英寸）-半導(dǎo)體材料 參考價(jià)：面議
全自動(dòng)劃片機(jī)/切片機(jī)（12英寸）-半導(dǎo)體材料– 最大 12 英寸硅晶圓– 真空吸盤：6~12英寸可切割材料：硅晶圓、QFN、陶瓷、印刷電路板、石英、LED、移動(dòng)...
校準(zhǔn)晶圓標(biāo)準(zhǔn)品-半導(dǎo)體表征 參考價(jià)：100000
校準(zhǔn)晶圓標(biāo)準(zhǔn)品-半導(dǎo)體表征污染晶圓標(biāo)準(zhǔn)品、校準(zhǔn)晶圓標(biāo)準(zhǔn)品和二氧化硅顆粒晶圓標(biāo)準(zhǔn)品使用顆粒沉積系統(tǒng)生產(chǎn)，該系統(tǒng)將首先使用差分遷移率分析儀（DMA）分析PSL尺寸峰...
表面光電壓譜--半導(dǎo)體表征 參考價(jià)：面議
表面光電壓譜--半導(dǎo)體表征表面光電壓譜進(jìn)行專業(yè)研究時(shí)，SPV010或者SPV020表面光電壓譜系統(tǒng)作為開爾文探針系統(tǒng)的升級(jí)配件，匹配共同工作。150瓦直流可控光...
英國(guó)KP開爾文探針掃描-半導(dǎo)體表征 參考價(jià)：面議
英國(guó)KP開爾文探針掃描-半導(dǎo)體表征英國(guó)KP開爾文探針掃描是一種非接觸無(wú)損震蕩電容裝置，用于測(cè)量導(dǎo)體材料的功函數(shù)（Work Function）或半導(dǎo)體、絕緣表面的...
界面力學(xué)分析儀-材料表征 參考價(jià)：面議
界面力學(xué)分析儀-材料表征界面力學(xué)分析儀可以用來(lái)直接測(cè)量表面（諸如：無(wú)機(jī)物，金屬，氧化物，聚合物，玻璃，生物分子界面等）間靜態(tài)力和動(dòng)態(tài)力，并在分子級(jí)領(lǐng)域內(nèi)研究界面...
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜-材料表征 參考價(jià)：面議
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜-材料表征飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)?？梢詮V泛應(yīng)用于物理，化學(xué)，微電子，生物，制藥，空間分析等工業(yè)和研究方面。TOF-...
大氣環(huán)境光電子發(fā)射光譜-材料表征 參考價(jià)：面議
大氣環(huán)境光電子發(fā)射光譜-材料表征1、大氣環(huán)境下使用2、功能：光電子發(fā)射光譜+開爾文探針3、測(cè)試能級(jí)：費(fèi)米能級(jí)，導(dǎo)帶底能量，價(jià)帶頂能量，HOMO-LUMO，禁帶寬...
俄歇電子能譜及電子衍射分析系統(tǒng)-材料表征 參考價(jià)：面議
俄歇電子能譜及電子衍射分析系統(tǒng)-材料表征俄歇電子能譜及低能電子衍射分析系統(tǒng)電子槍：型號(hào) ：帶可調(diào)焦距和束斑直徑的雙靜電透鏡束流電壓：0-3KV束流電流：大50u...
表面光電壓譜系統(tǒng)-材料表征 參考價(jià)：面議
表面光電壓譜系統(tǒng)-材料表征表面光電壓譜系統(tǒng)150瓦直流可控光強(qiáng)的石英鹵素?zé)艨梢赃_(dá)到開路電位來(lái)評(píng)估卷對(duì)卷硅太陽(yáng)能電池的質(zhì)量，全數(shù)字化控制所有參數(shù)，包括光照強(qiáng)度和波...
KP Technology掃描開爾文探針-材料表征 參考價(jià)：面議
KP Technology掃描開爾文探針-材料表征非破壞性振動(dòng)電容裝置,用于測(cè)試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢(shì)，表面功函。由材料表面頂部的1-3層原子...
超高真空開爾文探針-材料表征 參考價(jià)：面議
超高真空開爾文探針-材料表征開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢(shì)，
氣氛可控開爾文探針-材料表征 參考價(jià)：面議
氣氛可控開爾文探針-材料表征氣氛可控開爾文探針RHC020 氣氛控制掃描開爾文探針是控制氣氛檢測(cè)樣品的理想解決方案，50x50mm樣品加熱器可將樣品溫度升至10...
深能級(jí)瞬態(tài)譜儀-半導(dǎo)體表征 參考價(jià)：面議
深能級(jí)瞬態(tài)譜儀-半導(dǎo)體表征半導(dǎo)體領(lǐng)域研究和檢測(cè)半導(dǎo)體雜質(zhì)、缺陷深能級(jí)、界面態(tài)等的重要技術(shù)手段。根據(jù)半導(dǎo)體P-N 結(jié)、金－半接觸結(jié)構(gòu)肖特基結(jié)的瞬態(tài)電容（△C～t）...
單點(diǎn)開爾文探針-材料表征 參考價(jià)：面議
單點(diǎn)開爾文探針-材料表征開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界高分辨率的測(cè)試系統(tǒng)。
皮可安培計(jì)-材料表征 參考價(jià)：面議
皮可安培計(jì)-材料表征技術(shù)參數(shù)：接口輸入: BNC; 模擬輸出: Banana jacks偏壓選項(xiàng)：無(wú)偏壓/ 內(nèi)置偏壓 （± 90 V DC）/ 外置偏...
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜2-材料表征 參考價(jià)：面議
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜2-材料表征飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜是一種靈敏的表面分析技術(shù)，可以廣泛應(yīng)用于物理，化學(xué)，微電子，生物，制藥，空間分析等工業(yè)和研究方面。TOF-S...
開爾文探針系統(tǒng)-半導(dǎo)體表征 參考價(jià)：面議
開爾文探針系統(tǒng)-半導(dǎo)體表征開爾文探針系統(tǒng)材料表面的功函數(shù)通常由上層的1-3層原子或分子決定，所以開爾文探針是一種較靈敏的表面分析技術(shù)。
皮可安培計(jì)（USB接口）-材料表征 參考價(jià)：面議
皮可安培計(jì)（USB接口）-材料表征技術(shù)參數(shù)：接口輸入: BNC; 模擬輸出偏壓選項(xiàng)：無(wú)偏壓/ 內(nèi)置偏壓 （± 90 V DC）/ 外置偏壓 （BNC）
俄歇電子能譜儀（在線表面分析）-材料表征 參考價(jià)：面議
俄歇電子能譜儀（在線表面分析）-材料表征The microCMA is a compact （2.75“ CF mount） cylindrical mirro...
深能級(jí)瞬態(tài)譜儀2-半導(dǎo)體表征 參考價(jià)：面議
深能級(jí)瞬態(tài)譜儀2-半導(dǎo)體表征深能級(jí)瞬態(tài)譜儀是半導(dǎo)體領(lǐng)域研究和檢測(cè)半導(dǎo)體雜質(zhì)、缺陷深能級(jí)、界面態(tài)等的重要技術(shù)手段！測(cè)試功能：電容模式、定電容模式、電流模式、（雙關(guān)...
開爾文探針掃描系統(tǒng)-半導(dǎo)體表征 參考價(jià)：面議
開爾文探針掃描系統(tǒng)-半導(dǎo)體表征開爾文探針掃描系統(tǒng)是一種非接觸無(wú)損震蕩電容裝置，用于測(cè)量導(dǎo)體材料的功函數(shù)(Work Function)或半導(dǎo)體、絕緣表面的表面勢(shì)(...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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